X射线荧光光谱仪的射线防护系统介绍
更多关于X射线荧光光谱仪的信息点击 X射线荧光光谱(XRF)是一种应用十分广泛的元素分析方法,利用X射线荧光光谱仪可以直接分析固体、粉末和液体样品,具有制样简单、测试效率高、可以进行非破坏性分析等特点。秒中对样品进行快速合金分析,秒即可进行实验室精度的测量。具有合金分析软件,内嵌数百种常见合金号,中英文界面自由切换、操作简易,即使是非技术人员也可以轻松操作。包括“合金分析模式”、“定性分析模式”等,内置多种强度校正方法,可校正几何状态不同造成的偏差。基于基本参数法的可调整因子技术,支持用户建立更多的准确的合金分析模式。此外还具有动态匹配信息的功能,测试结果,样品牌号,匹配信息一同显示在测试界面并可互相切换。
仪器可以定量分析周期表中90%以上的元素,从镁到更重的元素。这些可测定的元素覆盖了商用发展以及合金中使用的大部分学生文化传统元素。这种方法的x射线分析仪检查技术能力,基于学生获取材料主要成分的信息,可以获得铝合金、不锈钢、铬钼合金、多管和法兰材料,很多企业基于这些合金、青铜合金、各种社会其他一些铜合金、焊锡、钛合金、工具钢、镍、钴元素,都可以进行搭配不同品牌。
X射线荧光光谱仪的防护系统是为了防止X射线泄漏,高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。高压发生器的输出功率4Kw,将高压加至X射线光管后,除小部分用于产生X射线外,大部分转化为热能,由内部油循环冷却系统带走。内循环冷却系统用于光管头部分,因此要求内循环油为电导率很低的专用油。如果长期使用的冷却油电导率会发生变化应及时更换。如果循环系统的流速过低也会发生高压开不了的故障,一般原因是油泵停转或是电机烧坏。射线防护系统正常与否,主要检查以下二部分:
1、顶盖的位置是否正常。X射线分析仪是一个封闭系统,顶盖是外层的射线防护装置,如果顶盖扣合不是完全紧密,仪器就有射线泄漏的可能。因此顶盖上都有限位开关,限位开关信号不到位或是限位开关故障都会引起高压开不起来。
2、X射线的警示标志是否正常。国家有标准规定须安装黄色信号灯并与相应的开关联动,因此如果信号灯失灵,高压也开不起来。
一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围为9号元素(F)到92号元素(U)。
铜矿物在自然界存在形式多样,有原生带次生富集带和氧化带等,共生矿物和伴生矿物众多,各类矿物均存在类质同象或者镜下光学特征相似的现象,传统的岩矿鉴定方法利用偏光、反光显微镜或实体显微镜等设备难以鉴别,对于此类矿物的鉴别需要借助化学分析方法或微区分析技术。
微区分析技术(电子探针、同步辐射、全反射微区分析)已在地质、环境、考古和材料科学等领域获得了应用。在半导体材料方面,微探针和同步辐射技术为掺杂元素的行为研究提供了新的方法:在考古方面应用微区能量色散x射线荧光元索成像法测定陶瓷中重金属元素;在地质学方面,应用x射线荧光光谱(XRF)微区分析技术分析陨石;应用微束X射线荧光微区测定了铀矿石;应用微束微区X荧光探针分析仪检测心矿石内的矿物颗粒。
带微区分析功能的手持式X射线荧光光谱仪具有价格相对便宜、稳定性好,分析速度快、分辨率高等优点,测区面积可根据需要鉴定矿物的大小进行调整,实现原位分析。可以应用该技术测定薄膜里的元素分布情况以及鉴定铅锌矿石和钨矿石。通过研究待鉴定矿物的测量条件(分析线、能量窗口),测量方式(滤光片样品自旋)和干扰校正模型(重叠干扰基体效应),建立了铜矿石类质同象物相的鉴定方法,获取了矿物的微区原位化学成分、含量及元素赋存状态特征。该方法为铜矿物的鉴定工作提供了一种快速便捷的手段,而且为矿产综合利用工作提供了有价值的信息。
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